半導體測試設備

TH511

Ciss、Coss、Crss、Rg,點(diǎn)測、列表掃描,C-V圖形掃描(選配),測試頻率:1kHz-2MHz,VGS0- ±40V,VDS0-±200V,雙通道,可選配4/6通道

TH512

Ciss、Coss、Crss、Rg,點(diǎn)測、列表掃描,C-V圖形掃描(選配),測試頻率:1kHz-2MHz,VGS0- ±40V,VDS0-±1500V,雙通道,可選配4/6通道

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