半導(dǎo)體測試設(shè)備

TH511

Ciss、CossCrss、Rg,點測、列表掃描,C-V圖形掃描(選配),測試頻率:1kHz-2MHz,VGS0- ±40VVDS0-±200V,雙通道,可選配4/6通道

TH512

CissCoss、Crss、Rg,點測、列表掃描,C-V圖形掃描(選配),測試頻率:1kHz-2MHz,VGS0- ±40V,VDS0-±1500V,雙通道,可選配4/6通道

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