超高速、高精度1kHz數(shù)字電容檢測計(jì) 適用于芯片、MELF、引線電容之測包機(jī) ●對應(yīng)CE規(guī)范 ●搭載接觸檢知(CONTACT CHECK)功能 ●測定時(shí)間:1.2msec ●微小電容到大電容廣泛范圍的測定檔位(20pF~200μF Range) ●測定頻率:1kHz±0.1%(正弦波形) ●五端點(diǎn)測量方式 ●搭載微處理器輸出HI/GO/LO ●3位半(1999)數(shù)字顯示 ●選配GP-IB或RS-232C(OPTION) ●搭載打印機(jī)輸出(搭載Centronics) ●即使測定中也可輸出測定値、δ、3δ、mas.、min.、日期、 時(shí)間等數(shù)値至打印機(jī) OPTION ●GP-IB ●RS-232C ※可選擇一種上述選配功能